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dcs=50*
im Bestand: Gesamter Bestand
811 - 820 von 900
Datum (neuestes zuerst)
Datum (ältestes zuerst)
Titel (A-Z)
Titel (Z-A)
Name (A-Z)
Name (Z-A)
Interne ID-Nr. aufsteigend
Interne ID-Nr. absteigend
811
4Pi-Mikroskopie mit ultra-hohen Aperturwinkeln
Lang, Marion Christine, 2007
812
A landmark based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes
Ritter, Martin, 2007
813
A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes
Ritter, Martin. - Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2007
814
An den Grenzen des Wissens
Zürich : vdf Hochschulverlag, 2007
815
Analysis and visualization in multidimensional microscopy
Wawrowsky, Kolja Alexander, 2007
816
Applied Scanning Probe Methods V
Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
817
Applied Scanning Probe Methods VI
Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
818
Applied Scanning Probe Methods VII
Cham : Springer Nature Switzerland, 2007
819
Aufbau und Kalibrierung eines Raster-LEED-Mikroskops
Hoyer, Jörn, 2007
820
Auflösungsvermögen und Genauigkeit der Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie und deren Anwendung an molekularen Systemen
Zerweck-Trogisch, Ulrich, 2007
811 - 820 von 900
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