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swiRef=040392376
im Bestand: Gesamter Bestand
1 - 10 von 328
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Titel (Z-A)
Name (A-Z)
Name (Z-A)
Interne ID-Nr. aufsteigend
Interne ID-Nr. absteigend
1
Engineering materials characterization
Kumar, Kaushik. - Berlin : De Gruyter, [2024]
2
Engineering Materials Characterization
Kumar, Kaushik. - Berlin/Boston : De Gruyter, 2023
3
Inspect Europe
Weinheim, Germany : Wiley-VCH GmbH
4
THz-Mikroskopie von Mikrowellenbauelementen und optischen Terahertz-Komponenten
Tollkühn, Marco. - Berlin : Mensch und Buch Verlag, [2023]
5
Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop
Wu, Yiting. - Erlangen : FAU University Press, 2022
6
Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop
Wu, Yiting. - Erlangen : FAU University Press, 2022
7
Aberrationskorrigierende Linsen und adaptive Prismen mit integrierter Piezoaktorik
Lemke, Florian. - Düren : Shaker Verlag, 2021
8
Aberrationskorrigierende Linsen und adaptive Prismen mit integrierter Piezoaktorik
Lemke, Florian. - Düren : Shaker, 2021, 1. Auflage
9
Mikroskopische Technik
Romeis, Benno. - Berlin/München/Boston : De Gruyter, 2019, 15. Auflage Reprint 2019
10
[Sichtbarkeiten und Sichtbarmachung]
Isolieren - Zerlegen - Stillstellen
Stahl, Lina Maria. - Paderborn, Deutschland : Wilhelm Fink, [2018]
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