Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=002126575
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/212657-6 |
| Veranstaltung | Test Conference |
| Andere Namen |
Annual Test Conference Cherry Hill Test Conference IEEE Test Conference |
| Vorgänger | Semiconductor Test Conference |
| Nachfolger | International Test Conference |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |
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