Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=002129078
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/212907-3 |
| Veranstaltung | Semiconductor Test Conference |
| Andere Namen | IEEE Semiconductor Test Conference |
| Vorgänger | Semiconductor Test Symposium |
| Nachfolger | Test Conference |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |

